Ваша корзина пуста.
Новости
24.12.2020

Поступил из типографии тираж 2-го издания книги И.А. Ивановой "Погостье". Жаркая зима 1941/42 г.

Читать полностью...
 
11.11.2020

В год 75-летия Великой Победы издательством «Политехника» готовится к выходу в свет книга «Погостье. Жаркая зима 1941/42 гг.» − сборник воспоминаний ветеранов 54-й армии и жителей прифронтовой полосы.

Читать полностью...
 
XV Санкт-Петербургский международный книжный салон

В связи с неблагополучной ситуацией по распространению новой коронавирусной инфекции (COVID-19) все офлайн книжные мероприятия, запланированные к проведению в 2020 году при поддержке Комитета по печати и взаимодействию со средствами массовой информации, отменены. 

Читать полностью...
 
14.10.2020

Более 70 предприятий из восьми стран примут участие в промышленной онлайн-выставке TeMEx

14 октября 2020 г. начнет работу промышленная онлайн-выставка TeMEx. Она объединит на одной площадке более семидесяти компаний из восьми стран мира, которые представят посетителям новинки широкого тематического спектра – от крупногабаритных машин и сырья для промышленности до научно-технических разработок, IT-решений и средств автоматизации производства.

Читать полностью...
 
06.10.2020

C 18 по 20 ноября 2020 года в конгрессно-выставочном центре «Экспофорум» пройдет «Петербургский международный форум здоровья» («ПМФЗ 2020»).

Читать полностью...
 
25.09.2020

 14 октября 2020 г. в 11.00 пройдет вебинар «Термическое оборудование и технологии для современного производства».

Читать полностью...
Мы в контакте

Кияткина И. Г. Геодезические и картографические терминыТехнология лесопиления: справочник П. П. Черных, А. Ю. Охлопкова, П. Г. Черных.

Куликов И. В. Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем: Критерий качества и надёжности
Увеличить


Куликов И. В. Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем: Критерий качества и надёжности

Цена: 270 Руб.

СПб.: Политехника, 2017. – 172 с.: ил. ISBN 987-5-7325-1115-4

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надёжность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие «электронного функционала» и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надёжность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также её ничтожную достоверность в случае оценки надёжности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель.
Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.

Оглавление
Предисловие
Принятые сокращения и терминологический словарь
Глава 1. Физические основы функциональной устойчивости
1.1. Предпосылки функциональной устойчивости
1.2. Природа и формирование дефектов структуры Si – SiO2
1.3. Причины деградации параметров базовых элементов
Глава 2. Феноменологическая модель устойчивости
2.1. Основы феномена устойчивости базовых структур
2.2. Концепция оценки функциональной устойчивости
2.3. Исследования функциональной устойчивости СБИС

Глава 3. Функциональная устойчивость и тепловое старение
3.1. Введение в проблему моделирования теплового старения
3.2. Практика использования индекса Еа для оценки надёжности
3.3. Теоретические аспекты термодинамического описания систем

Глава 4. Критерий функциональной устойчивости и надёжность
4.1. Концепция прогноза функционального ресурса СБИС
4.2. Оценка интенсивности сбоев СБИС для расчётов надёжности
4.3. Прикладные аспекты критерия функциональной устойчивости
Приложения
Приложение А. Методика сравнительной оценки качества СБИС по их функциональной устойчивости
Приложение Б. Методика прогноза функционального ресурса СБИС
Приложение В. Методика экспериментально-расчётной оценки интенсивности сбоев (отказов) СБИС

Список литературы

 

Предисловие
Оглавление
Отрывок из книги


Эта книга Вас заинтересовала? Поделитесь с друзьями в социальной сети: